Influence of preparation process on microstructure, critical current density and Tc of MgB2/Fe/Cu wires
Y. F. Wu, G. Yan, J. S. Li, Y. Feng, S. K. Chen, H. P. Tang, H. L. Xu, C. S. Li, P. X. Zhang, Y. F. Lu
科研成果: 书/报告/会议事项章节 › 会议稿件 › 同行评审
Y. F. Wu, G. Yan, J. S. Li, Y. Feng, S. K. Chen, H. P. Tang, H. L. Xu, C. S. Li, P. X. Zhang, Y. F. Lu
科研成果: 书/报告/会议事项章节 › 会议稿件 › 同行评审