跳到主要导航
跳到搜索
跳到主要内容
西北工业大学 国内
English
中文
国内
简介
研究单位
科研成果
按专业知识、名称或附属进行搜索
Femtosecond laser strengthening of electron-beam deposited SiO
2
thin film on fused silica substrates
Kaixin Yuan, Feng Geng,
Qinghua Zhang
, Yaguo Li
Chengdu Fine Optical Engineering Research Center
科研成果
:
期刊稿件
›
文章
›
同行评审
3
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Femtosecond laser strengthening of electron-beam deposited SiO
2
thin film on fused silica substrates' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Thin Films
100%
Fused Silica
100%
Silicon Dioxide
100%
Femtosecond Laser
100%
Yield Point
75%
Induced Damage
75%
Nanosecond
50%
Laser Light
50%
Laser Irradiation
50%
Fourier Transform
25%