Study on the crack mechanism of SiO2 anti-reflective layer prepared by sol–gel method

Xue Ran Deng, Qing Hua Zhang, Xiang Yang Lei, Wei Yang, Hao Hao Hui, Jian Wang, Jun Shen

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10 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Study on the crack mechanism of SiO2 anti-reflective layer prepared by sol–gel method' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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