Strain rate sensitivity of Cu/Ta multilayered films: Comparison between grain boundary and heterophase interface

Q. Zhou, J. J. Li, F. Wang, P. Huang, K. W. Xu, T. J. Lu

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指纹

探究 'Strain rate sensitivity of Cu/Ta multilayered films: Comparison between grain boundary and heterophase interface' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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