Some metrics for accessing quality of product line architecture

Zhang Tao, Deng Lei, Wu Jian, Zhou Qiaoming, Ma Chunyan

科研成果: 书/报告/会议事项章节 › 会议稿件 › 同行评审

19 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Some metrics for accessing quality of product line architecture' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

Computer Science