Residual stress evolution and tailoring of cold pilgered Ti-3Al-2.5V tube

D. Wei, Y. Y. Chen, H. Li, J. C. Yang

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12 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Residual stress evolution and tailoring of cold pilgered Ti-3Al-2.5V tube' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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