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西北工业大学 国内
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简介
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科研成果
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Residual stress and strain in CdZnTe wafer examined by X-ray diffraction methods
D. Zeng,
W. Jie
,
T. Wang
,
G. Zha
材料学院
Northwestern Polytechnical University Xian
科研成果
:
期刊稿件
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文章
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同行评审
14
引用 (Scopus)
综述
指纹
指纹
探究 'Residual stress and strain in CdZnTe wafer examined by X-ray diffraction methods' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Engineering
Destructive Method
33%
Experimental Result
33%
Mechanical Stress
33%
Ray Diffraction
33%
Ray Diffraction Method
100%
Residual Stress
100%
Thermal Stress
33%
Chemical Engineering
Strain Measurement
100%