Optical constants and properties of dual-ion-beam sputtering Ta2O5/SiO2 thin film by spectroscopy

Peng Shang, Shengming Xiong, Linghui Li, Dong Tian

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指纹

探究 'Optical constants and properties of dual-ion-beam sputtering Ta2O5/SiO2 thin film by spectroscopy' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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