Effects of imperfections on bifurcation of multi-layer microstructures of MEMS under thermal loading

Y. T. Yu, W. Z. Yuan, D. Y. Qiao

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1 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Effects of imperfections on bifurcation of multi-layer microstructures of MEMS under thermal loading' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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