Determination of reduced Young's modulus of thin films using indentation test

Wuzhu YAN, Shifeng WEN, Jun LIU, Zhufeng YUE

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5 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Determination of reduced Young's modulus of thin films using indentation test' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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