Defect identification by sensor network under uncertainties
Tomonari Furukawa, Jinquan Cheng, Shen Hin Lim, Fei Xu, Ryuji Shioya
科研成果: 书/报告/会议事项章节 › 会议稿件 › 同行评审
Tomonari Furukawa, Jinquan Cheng, Shen Hin Lim, Fei Xu, Ryuji Shioya
科研成果: 书/报告/会议事项章节 › 会议稿件 › 同行评审