Barrier controlled carrier trapping of extended defects in CdZnTe detector

Rongrong Guo, Wanqi Jie, Yadong Xu, Hui Yu, Gangqiang Zha, Tao Wang, Jie Ren

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5 引用 （Scopus）

指纹

探究 'Barrier controlled carrier trapping of extended defects in CdZnTe detector' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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